NDT Global Technology Day c/o TECMA

NDT-Technology-day-TECMA

Lo scorso 24 maggio 2022 TECMA ha ospitato l’evento NDT Global Technology Day, allestito presso la nostra sede a San Giuliano Milanese, durante il quale abbiamo presentato:

  • Una suite completa di soluzioni ispettive per la ricerca cricche in fase liquida
  • La nuova soluzione ispettiva per “Geo-Hazard” che integra Eddy Current, IMU e ARTscan in un nuovo unico utensile ad alta tecnologia
  • Lo stato dell’arte odierno della Tecnologia ART
  • Un aggiornamento sullo sviluppo delle nuove soluzioni ispettive per “Hydrogen Repurposing”

La sessione tecnica, fruibile anche in remoto tramite Teams, ha visto la partecipazione di un nutrito numero di esperti del settore, che hanno anche potuto visionare gli utensili ispettivi descritti e hanno animato il dibattito con domande e condivisione di idee ed esperienze, proseguendo nel confronto anche durante il piacevole momento del lunch break.

Ringraziamo vivamente tutti gli ospiti intervenuti per la loro partecipazione attiva, augurandoci che tali incontri possano essere organizzati più frequentemente, per rinnovate e proficue collaborazioni.

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L’Amministratore Delegato di TECMA S.r.l.

Andrea Giorgio Bologna

CONFERENZA & EXPO NACE GENOVA 2016: GRANDE SUCCESSO!

Ottimo risultato per la Conferenza NACE che si è svolta nelle giornate del 30 e 31 Maggio presso il Centro Congressi del Porto Antico di Genova.

Oltre 40 stands hanno occupato il terzo piano dei Magazzini del Cotone, accompagnati da personale qualificato e disponibile a prestare attenzione ai numerosi visitatori accorsi durante le due giornate.

Intervallate solo da brevi coffee break,  nelle tre sale principali: Scirocco, Libeccio e Tramontana,  si sono susseguite una serie di conferenze che hanno coperto ad ampio spettro il mondo dell’ Oil & Gas.

Grande successo per la Memoria presentata da Andrea Bologna dal titolo: “Immediate Pipeline Integrity & Future Integrity assessment – a review of internationally proven methods to manage In Line Inspection data”.